■ Ideal für Schaltnetzteile, IGBTs,

  Si /SiC-Leistungsbauelemente

■ 4000V Eingangsspannung, 100:1

■ >600MHz Bandbreite

■ <3pF Eingangskapazität

■ 50MΩ Eingangsimpedanz

■ Kompakter Formfaktor

■ Viel Zubehör für individuelle Kontaktierung

■ Universeller Einsatz durch BNC-Anschluss

■ Ausgangsterminierung 1MΩ

■ Für Testeranwendungen

■ Marktführende >1GHz Bandbreite

■ Ultra-niedrige <200 pH        Einfügungsinduktivität

■ Verschiedene Größen verfügbar: 5mΩ, 11mΩ, 24mΩ, 52mΩ

■ Für WBG-Schaltverlust- und Impulsstrommessungen

■ Ideal für Schaltnetzteile und GaN /
   SiC- High-Side-VGS-Messungen

■ Höchste Bandbreite >1,5GHz,
    <300ps Anstiegszeit

■ Stabil über großen Temperaturbereich

■ >180dB CMRR von DC bis 500kHz,
   80dB bei 1GHz

■ ± 60kV Gleichtaktspannung

■ Ideal für Schaltnetzteile, IGBTs,
  Si /SiC- Leistungsbauelemente

■ ±4000V Eingangsspannung

■ Je mit vier umschaltbaren
  Eingangsteilern

■ >300MHz Bandbreite

■ Hohe Gleichtaktunterdrückung

■ Für Testeranwendungen

■ Ideal für Schaltnetzteile und GaN /
   SiC- Leistungsbauelemente

■ ±200V, ±400V, ±1000V to ±2000V    Modelle

■ Je mit vier umschaltbaren
    Eingangsteilern

■ 400MHz / 500MHz Bandbreite

■ Bis zu 7m Kabellänge für weit entfernte
   Testpunkte

■ Ideal für Test, Debugging und

   Design-Validierung
■ Bis zu >1GHz Bandbreite
■ ±42V Peak, 30V RMS, ±60V DC 

   Eingangsspannung
■ Sehr geringe <4pF

   Eingangskapazität
■ Große Auswahl an Zubehör
■ Universeller BNC-Ausgang

   Verwendung mit jedem Oszilloskop

■ >4GHz Bandbreite, rauscharm,
   1MΩ || 0,6pF Eingang​

■ ±8V, ±20V, ±42V
   Modelle​

■ ±60V Gleichtaktspannung​

■ Ideal für die Fehlersuche und
   Überprüfung von seriellen Bussen​

■ Bis zu 7,5m Kabellänge für weit
   entfernte Testpunkte​

■ Bandbreiten von 0,004Hz bis
   >60MHz

■ Stromstärken von mA bis 25 kA
■ Extrem niedrige Dachschräge, Hohe
   I-t Fähigkeit

■ Sehr hohe DC Sättigungsströme